Zusammenfassung
Die Herstellung photographischer Profile von Spektrallinien wird in der Emissionsspektralanalyse oft benötigt. Die Arbeit enthält die Beschreibung einer zu diesem Zweck geeigneten einfachen Methode. Das Wesen des Verfahrens liegt darin, dass das Bild der Linie mit Hilfe einer gedrehten, planparallelen Glasplatte vor dem Austrittsspalt eines allgemein gebräuchlichen Spektrallinienphotometers in eine einseitige Vibrierbewegung gesetzt wird. Die von einem hinter dem Austrittsspalt gesetzten SEV-Rohr erhaltene Spannung wird auf die senkrechte Ablenkplatte eines Oszilloskops geführt. Das entstandene Oszillogramm stellt die Verteilung der Transmittenz der Linie nach der Wellenlänge dar. Die mit der Methode erhaltenen Graphikone beweisen hohe Auflösung der Linienprofile nach der Transmittenz, als auch nach der Wellenlänge derselben. Der Artikel endet mit der Zusammenfassung der Hauptzüge des Verfahrens.
Literatur
N. Bárány: Theorie und Praxis der optischen Messinstrumente, I. Band, 2. Ausgabe, Műszaki Kiadó, Budapest, 1953. S. 184.
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Török, T., Papp, L. Methode zur Schnellen Oszilloskopischen Bestimmung des Photographischen Profils von Spektrallinien. Acta Physica 35, 91–98 (1974). https://doi.org/10.1007/BF03159746
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DOI: https://doi.org/10.1007/BF03159746