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Reference methods and their wider applicability to measurements of roundness profiles

Bezugsmethoden und ihre breite Anwendbarkeit bei der Messung von Rundheitsprofilen

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e&i Elektrotechnik und Informationstechnik Aims and scope Submit manuscript

Abstract

The article deals with the development of reference methods applied to accurate measurements of roundness profiles. Their disadvantages are discussed basing mainly on the results of own research work. The article ends with forecasts concerning the future directions in the scientific research on this subject.

Zusammenfassung

In diesem Beitrag wird die Entwicklung der Bezugsmethoden beschrieben, welche für die genaue Messung von Rundheitsprofilen angewendet werden. Auf der Basis durchgeführter Forschungsarbeiten werden ihre Nachteile eingehend diskutiert. Abschließend werden Vorhersagen über die zukünftige wissenschaftliche Weiterentwicklung auf diesem Gebiet gegeben.

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Authors and Affiliations

  1. Autonomous Division of Machine Technology and Centre for Laser Technology of Metals, Faculty of Mechanical Engineering, The Kielce University of Technology, Al 1000-lecia P.P. 7, 25-314, Kielce, Poland

    S. Adamczak & D. Janecki

Authors
  1. S. Adamczak
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  2. D. Janecki
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Additional information

Nach einem Vortrag, gehalten anläßlich des am 26. November 1997 an der Technischen Universität Wien veranstalteten 4. Internationalen Kolloquiums „Mikro- und Nanotechnologie”. This work was supported in part by Polish Scientific Research Committee under Grand KBN 7T07D040080.

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Adamczak, S., Janecki, D. Reference methods and their wider applicability to measurements of roundness profiles. Elektrotech. Inftech. 115, 197–202 (1998). https://doi.org/10.1007/BF03159117

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  • DOI: https://doi.org/10.1007/BF03159117

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