Mesure des circuits monolithiques hyperfréquences base d’une bonne conception

Résumé

Cet article traite de l’importance des mesures dans la conception des circuits monolithiques hyperfréquences. L’auteur décrit les liens existant entre les tests et la modélisation dans le domaine linéaire, la création d’une station de mesure, puis la mise en æuvre d’une méthode de calibrage précise sur plaquette et enfin l’utilisation de ces tests pour la conception. Les résultats de ces mesures seront comparés à ceux provenant d’un calibrate standard ainsi qu’à ceux de la simulation pour des éléments passifs et actifs. Les efforts effectués au niveau de la caractérisation des éléments permettent ainsi une meilleure conception grâce à une modélisation très précise.

Abstract

The aim of this article is to show how important are the measurements to design Microwave Monolithic Integrated Circuits. The following items will be discussed : the existing links between tests and modeling of linear devices, the creation of a measurement station, the use of an on-wafer accurate calibration procedure, and the utilization of these tests for circuit design. Corresponding results will be compared to those provided by a standard calibration and also to computation of models, for passive and active devices. The efforts made during caracterization of elements allow thus a better understanding and design, thanks to a very precise modeling.