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Eine technologische Diagnose im Kristallin

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Zeitschrift für Kristallographie, Mineralogie und Petrographie

Zusammenfassung

Erfahrungen der Metallographie, daß die Größe des Kristallkorns nicht bloß abhängt von der Temperatur, sondern auch von der Deformation, werden auch auf Serien kristalliner Schiefer angewendet.

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Schwinner, R. Eine technologische Diagnose im Kristallin. Zeitschrift für Kristallographie, Mineralogie und Petrographie 42, 59–63 (1932). https://doi.org/10.1007/BF02938526

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  • DOI: https://doi.org/10.1007/BF02938526

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