Riassunto
Il dispositivo descritto in questa Nota si presta a misure su campioni in forma di dischi o di lamine aventi resistenze termiche per unità di sezione comprese fra 800 e 10 000 CGS. Esso consete determinazioni di conducibilità termicak di precisione sufficiente agli scopi tecnici in pochi minuti. La Nota coniene una espozione di prove sistematiche dirette a determinare i limiti di applicabilità del metodo.
Summary
The apparatus described in this note allows measurements on laminar samples having a thermal resistance per unit section between 800 and 10 000 C.G.S. It allows the determination in a few minutes of the thermal conductivityR with a precision sufficient for technical purposes. This note contains the description of systematical experiments carried out to determinate the limits of validity of the method.
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References
C. H. Lees:Phil. Trans Roy. Soc. London,191, 399 (1898).
H. F. Weber:Ann. der Phys.,10, 103, 304, 472 (1880).
A. L. Fitch:Am. Phys. Teac.,3, 135 (1935);Z. V. Harvalik:Rev. of Sc. Instr.,18, 11, 815 (1947).
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Merlin, M. Metodo dinamico di determinazione della conducibilità termica di materiali cattivi conduttori. Nuovo Cim 6, 283–289 (1949). https://doi.org/10.1007/BF02781000
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DOI: https://doi.org/10.1007/BF02781000