References
R. H. Williams:Contemp. Phys.,19, 389 (1978).
Proceedings of the XVII Annual Conference on PCSI,J. Vacuum Sci. Technol.,17 (1980).
G. Margaritondo andS. E. Howe:J. Vac. Sci. Technol.,17, 561 (1980).
Thin Films—Interdiffusionand Reactions, edited byJ. M. Poate, J. W. Mayer andK. N. Tu (New York, N. Y., 1978).
S. P. Murarka:J. Vac. Sci. Technol.,17, 793 (1980).
G. Ottaviani:J. Vac. Sci. Technol.,16, 1112 (1980).
J. W. Mayer andK. N. Tu: inThin Film—Interdiffusionand Reactions, edited byJ. M. Poate, J. W. Mayer andK. N. Tu (New York, N. Y., 1978), p. 359.
K. N. Tu, W. K. Chu andJ. W. Mayer:Thin Solid Films,25, 403 (1975).
W. K. Chu, H. Kraütle, J. W. Mayer, H. Müller, M-A. Nicolet andK. N. Tu:Appl. Phys. Lett.,25, 454 (1974).
D. J. Cor andE. H. Rhoderick:J. Phys. D,9, 958 (1976).
K. N. Tu, E. Alessandrini, W. K. Chu, H. Kraütle andJ. W. Mayer:J. Appl. Phys. Suppl.,2, Part 1, 669 (1974).
S. S. Lau andN. W. Cheung:Thin Solid Films,71, 117 (1980).
C. Canali, F. Catellani, G. Ottaviani andM. Prudenziati:Appl. Phys. Lett.,33, 187 (1978).
G. Ottaviani andM. Costato:J. Cryst. Growth,45, 365 (1978).
W. K. Chu, J. W. Mayer andM-A. Nicolet:Backscattering Spectrometry (New York, N. Y., 1978).
J. O. Olowolofe, M-A. Nicolet andJ. W. Mayer:Thin Solid Films,38, 143 (1978).
C. Canali, G. Majni, G. Ottaviani andG. Celotti:J. Appl. Phys.,50, 255 (1979).
G. Majni, C. Nobili, G. Ottaviani, M. Costato andE. Galli: to be published onJ. Appl. Phys.
E. G. Colgan, B. Y. Tsaur andJ. W. Mayer: to be published onAppl. Phys. Lett.
F. Nava, G. Majni, G. Ottaviani andE. Galli:Thin Solid Films,77, 319 (1981).
K. N. Tu:J. Appl. Phys.,48, 3379 (1977).
R. Pretorius, C. L. Ramiller, S. S. Lau andM-A. Nicolet:Appl. Phys. Lett.,30, 501 (1977).
T. G. Finstad, J. W. Mayer andM-A. Nicolet:Thin Solid Films,51, 391 (1978).
Author information
Authors and Affiliations
Rights and permissions
About this article
Cite this article
Costato, M. Growth rate and phase formation in the nickel-silicon couple. Lett. Nuovo Cimento 32, 219–224 (1981). https://doi.org/10.1007/BF02745353
Received:
Published:
Issue Date:
DOI: https://doi.org/10.1007/BF02745353