Optical critical-point structures of Si: Symmetry analysis by low-field electroreflectance

Summary

The critical-point locations in the Brillouin zone and the relations among the interband reduced masses at these points are determined for theE’ ₀,E ₁ andE ₂ optical structures in Si. As a synthesis, theE _4–5(k) energy contours are constructed from the experimental results.

Riassunto

Si determinano le posizioni dei punti critici nella zona di Brillouin e le relazioni tra le masse ridotte interbanda in tali punti nel caso delle strutture otticheE’ ₀,E ₁ eE ₂ nel Si. Come sintesi, si costruiscono i contorni di energieE _4–5(k) dai risultati sperimentali.

Резюме

Определяются локализация в зоне Бриллуэна и соотношение между междузонными приведенными массами для оцтических критических точекE’ ₀,E ₁ иE ₂ в Si. Как обобщение, конструируетсяE _4–5(k) энергетический контур из экспериментальных результатов.