Skip to main content
Log in

The direct evaluation of electronic band structures of layered solids using angle-resolved photoemission

Непосредственная оценка электронных зонных структур слоисрых твердых тел, используя технику фотоэмиссии, разложенной по углам

  • Published:
Il Nuovo Cimento B (1971-1996)

Summary

The technique of angle-resolved photoemission is applied to the direct measurement of the two-dimensional dispersion of energy bands in graphite, GaSe and PbI2. For graphite and GaSe comparisons with calculated band structures suggest good qualitative agreement with the measured band dispersion. Photon incidence angle spectra are presented for PbI2 which demonstrate the importance of optical matrix element effects in contributions to the vectorial photocurrent.

Riassunto

Si applica la tecnica di fotoemissione risolta angolarmente alla misurazione diretta della dispersione bidimensionale delle bande di energia in grafite, GaSe e PbI2. Per grafite e GaSe, i confronti con strutture di banda calcolate suggeriscono un buon accordo qualitativo con la dispersione di banda misurata. Si presentano gli spettri in funzioni dell’angolo di incidenza per il PbI2 che dimostrano l’importanza degli effetti della matrice ottica nei contributi alle fotocorrenti vettoriali.

Резюме

Тах nика фотоэмиссии, разложенной по углам, применяется к непосредственному измерению двухмерной дисперсии энергетических зон в графите, GaSe и PbI2. Для графита и GaSe сравнение с вычисленными зонными структурами свидетельствует о качественном согласии с измеренной дисперсией зон. Приводятся угловые спектры падающих фотонов для иодистого свинца, которые указывают на важность вкладов оптического матричного элемента в векторный фототок.

This is a preview of subscription content, log in via an institution to check access.

Access this article

Price excludes VAT (USA)
Tax calculation will be finalised during checkout.

Instant access to the full article PDF.

Similar content being viewed by others

References

  1. C. N. Berglund andW. E. Spicer:Phys. Rev.,136, 1030 (1964).

    Article  ADS  Google Scholar 

  2. H. P. Hughes andW. Y. Liang:J. Phys. C,6, 1684 (1973).

    Article  ADS  Google Scholar 

  3. N. V. Smith andM. M. Traum:Phys. Rev. B,11, 2087 (1975).

    Article  ADS  Google Scholar 

  4. L. Ley, R. A. Pollak, F. R. McFeely, S. P. Kowalczyk andD. A. Shirley:Phys. Rev. B,9, 600 (1974).

    Article  ADS  Google Scholar 

  5. P. M. Williams, D. Latham andJ. Wood:Journ. Elec. Spec.,7, 281 (1975).

    Article  Google Scholar 

  6. G. D. Mahan:Phys. Rev. B,2, 4334 (1970).

    Article  ADS  Google Scholar 

  7. J. W. Gaszuk:Surf. Sci.,58, 19 (1975).

    Google Scholar 

  8. G. S. Painter andD. E. Ellis:Phys. Rev. B,1, 474 (1970).

    Article  ADS  Google Scholar 

  9. R. F. Willis, B. Fitton andG. S. Painter:Phys. Rev. B,9, 1926 (1974).

    Article  ADS  Google Scholar 

  10. M. Schluter, J. Cammassel, S. Kohn, U. P. Voitchovsky, Y. R. Shen andM. L. Cohen:Phys. Rev. B,13, 3534 (1976).

    Article  ADS  Google Scholar 

  11. D. R. Lloyd, C. M. Quinn, N. V. Richardson andP. M. Williams:Comm. Phys.,1, 11 (1976).

    Google Scholar 

Download references

Author information

Authors and Affiliations

Authors

Additional information

Traduzione a cura della Redazione.

Переведено редакцией.

Rights and permissions

Reprints and permissions

About this article

Cite this article

Williams, P.M. The direct evaluation of electronic band structures of layered solids using angle-resolved photoemission. Nuov Cim B 38, 216–225 (1977). https://doi.org/10.1007/BF02723489

Download citation

  • Received:

  • Published:

  • Issue Date:

  • DOI: https://doi.org/10.1007/BF02723489

Navigation