Zusammenfassung
Nach einer kurzen Beschreibung einiger bisher üblichen Verfahren zur Auswertung von spannungsoptischen Aufnahmen werden die Grundlagen des Schubspannungsdifferenz-Verfahrens für ebene
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Schrifttum
In vielen Fällen reicht die Kenntnis darüber, wie die größten Schubspannungen τmax verteilt sind, für die Beurteilung der Anstrengung des Werkstoffes aus.
F. W. Bubb: A complete photoelastic instrument. J. opt. Soc. Amer. Bd. 30 (1940) S. 297/98.
A. Kuske: Die Auswertung von ebenen spannungsoptischen Versuchen. Forsch. Ing.-Wes. Bd. 18 (1952) S. 113/26.
Vgl. z. B.H. C. v. Widdern: Polarisationsoptische Spannungsmessungen an Stabecken. Diss. Techn. Hochschule München 1929.
Das sog.s,t-Verfahren nachL. Föppl, vgl. z. B.J. Johannson: Spannungsoptische Untersuchung hoher Träger. Diss. Techn. Hochschule München 1943.
M. M. Frocht: Photoelasticity. New York 1946.
Auszug aus der Dissertation des Verfassers «Spannungsoptische Untersuchung von Rahmenecken mit Aussparungen». Techn. Hochschule München 1949.
Der Teilpunkt8, Punkt S in Bild 13a und b, ist ein schubfreier Punkt, d. h. bei jeder Filterstellung läuft ein Zweig der dazugehörigen Isokline hindurch (vgl. Bild 12). In diesem Punkte sind τxy=0 und σx=σy (vgl. auch späteres Bild 14).
H. E. Kayser: Beitrag zur Spannungsermittlung in Rahmenecken mit Rechteckquerschnitt. Diss. Techn. Hochschule Darmstadt 1938.
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Albrecht, R. Das Schubspannungsdifferenz-Verfahren zur vollständigen Auswertung ebener Spannungszustände in der Spannungsoptik. Forsch Ing-Wes 19, 17–23 (1953). https://doi.org/10.1007/BF02558330
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DOI: https://doi.org/10.1007/BF02558330