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Journal of Radioanalytical Chemistry

, Volume 17, Issue 1–2, pp 55–63 | Cite as

Some microanalytical uses of small-diameter charged-particle beams

  • T. B. Pierce
Microanalyse des Surfaces

Keywords

Target Chamber Sensitive Analytical Technique Beam Movement Quartz Disc Copper Pyrite 
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Résumé

Il est souvent nécessaire d'obtenir des renseignements analytiques sur des échantillons de faible volume soit pour caractériser qualitativement ou quantitativement des microquantités de matière, soit pour permettre l'étude des variations locales de composition. Les flux de particules chargées produits par les accélérateurs à haut voltage peuvent être focalisées jusqu'à des diamètres de quelques microns permettant ainsi d'appliquer à l'analyse de faible volume de nombreuses méthodes d'activation aux particules chargées par réactions nucléaires. Les renseignements analytiques peuvent être tirés de l'examen sélectifs des radiations émises durant l'irradiation aux particules chargées ce qui peut inclure la diffusion élastique, les particules chargées émises, l'émission γ et X. Les variations locales de concentrations d'un élément peuvent être suivies en balayant la surface de l'échantillon par le faisceau d'ions, soit par un mouvement mécanique de l'échantillon, soit par déflection du faisceau. Les techniques avec un micro faisceau sont maintenant utilisées pour obtenir des résultats sur des matériaux métallurgiques minéralogiques et semi-conducteurs.

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References

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Copyright information

© Akadémiai Kiadó 1973

Authors and Affiliations

  • T. B. Pierce
    • 1
  1. 1.Analytical Sciences DivisionA.E.R.E.Nr. DidcotEngland

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