Résumé
L'analyse par diffusion élastique peut détecter de microquantités à condition qu'elles soient concentrées dans des films minces. En outre, la méthode peut directement fournir des indications sur l'emplacement des éléments. Ces caractéristiques ont été mises à profit pour apporter un instrument utile à l'étude des processus d'oxydation.
References
R. F. S8PPEL, Phys. Rev., 115 (1959) 1441.
J.W. MAYER, L. ERIKKSON, J.A. DAVIES, Ion Implantation in Semiconductors, Academic Press, New York, 1970.
W.D. MACKINTOSH, International Conference on Modern Trends in Activation Analysis, Paris, 1972.
J.A. DAVIES, B. DOMEIJ, J.P.S. PRINGLE, F. BROWN, J. Electrochem. Soc., 112 (1965) 675.
J.P.S. PRINGLE, J. Electrochem. Soc., 119 (1972) 482.
J.A. DAVIES, F. BROWN, M. McCARGO, Can. J. Phys., 41 (1963) 829.
B. DOMEIJ, F. BROWN, J.A. DAVIES, M. McCARGO, Can. J. Phys., 42 (1964) 1624.
G. AMSEL, D. SAMUEL, J. Phys. Chem. Solids, 23 (1962) 1707.
P.D. BORULAND, W.K. CHU, D. POWERS, Phys. Rev., 133 (1971) 3625.
W.K. CHU, D. POWERS, Phys. Rev., 187 (1969) 478.
J. GYULAI, O. MEYER, J.W. MAYER, App. Phys. Lett., 16 (1970) 232.
F. BROWN, W.D. MACKINTOSH, “The Use of Rutherford Backscattering Methods to Study the Behaviour of Ion Implanted Marker Atoms During Anodic Oxidation of Aluminium; Ar, Kr, Xe, Rb, Cd, Cl, Br and I”. To be submitted for publication.
J.A. DAVIES, J. FREISEN, J.P. McINTYRE, Can. J. Chem., 38 (1960) 1526.
M. HOLLSTEIN, Report, Nuclear Research Centre, Karlsruhe, KFK-306 or UCRL TRANS. 1253 (L).
D.A. THOMPSON, W.D. MACKINTOSH, J. Appl. Phys., 42 (1971) 3969.
Author information
Authors and Affiliations
Rights and permissions
About this article
Cite this article
Mackintosh, W.D. The role of elastic scattering analysis in studies of anodic oxidation. J. Radioanal. Chem. 17, 45–54 (1973). https://doi.org/10.1007/BF02520772
Issue Date:
DOI: https://doi.org/10.1007/BF02520772