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Analyse de metaux rares et de materiaux semi-conducteurs a l'aide de l'activation aux helions-3 et aux neutrons thermiques

  • Dosage de Quelques Eléments dans les Matériaux Semi-conducteurs
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Résumé

On a présenté les méthodes de détermination de O et C dans quelques métaux réfractaires et matériaux semi-conducteurs. On a porté une attention particulière au procédé de traitement de la surface avant et après irradiation et aux méthodes pour séparer du fluor et du carbone radiochimiquement purs. Pour la détermination de Cu, Mn, Co, Ni, Cu et Zn, on concentre les impuretés et on les sépare par la méthode de chromatographie d'extraction. On a discuté des perspectives d'utilisation de la chromatographie d'extraction en analyse par activation des matériaux de haute pureté.

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Bibliographie

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Aleksandrova, G.I., Shmanenkova, G.I., Shchulepnikov, M.N. et al. Analyse de metaux rares et de materiaux semi-conducteurs a l'aide de l'activation aux helions-3 et aux neutrons thermiques. J. Radioanal. Chem. 19, 65–75 (1974). https://doi.org/10.1007/BF02515268

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  • DOI: https://doi.org/10.1007/BF02515268

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