Il Nuovo Cimento D

, Volume 2, Issue 6, pp 1728–1735 | Cite as

High-temperature lattice parameters and DTA of the quaternary compound CuGaSn□Se4

  • S. Adán López-Rivera
  • B. R. Pamplin
  • J. C. Woolley
Article

Summary

The variation of the lattice parameters, from the room temperature to the melting point of the compound, has been studied for the chalcopyrite semiconductor CuGaSn□Se4 by using a high-temperature X-ray camera. The compound shows an increase in the tetragonal of thermal expansionα c . The results are interpreted in terms of expansion of the bonds. The DTA measurement, that has shown a peak at 590°C, has been associated with the decomposition of the quaternary into two phases. At the temperature of 590°C extra lines appeared in the X-ray measurements of θ values of 15.3133o, 18.8235o, 21.0230o, 24.5633o, 26.3712o and 34.7926o. These new extra lines (second phase)_are probably from SnSe2.

PACS.81.30

Phase diagram and microstructures developed by solidification and solid-solid phase transformations 

Riassunto

La variazione dei parametri del reticolo da temperature ambiente al punto di fusione del composto è stata studiata per semiconduttori tipo calcopirite CuGaSn□Se4 usando una macchina fotografica a raggi X ad alta temperatura. Il composto mostra un aumento nella forma tetragonale dell'espansione termicaα c . I risultati sono interpretati in termini dell'espansione dei legami. La misura di DTA, che ha mostrato un picco a 590°C, è stata associata con la decomposizione del quaternario in due fasi. Alla temperatura di 590°C, apparvero linee addizionali nelle misure a raggi X a valori di θ di 15.3133o, 18.8235o, 21.0230o, 24.5633o, 26.3712o e 34.7926o. Queste linee addizionali (di seconda fase) derivano probabilmente dal SnSe2.

Резюме

Исследуются изменения параметров решетки с температурой, от комнатнои температуры до точки плавления соединения, для халькопиритных полупроводников CuGaSn□Se4, используя высокотемпературную рентгеновскую камеру. Это соединение обнаруживает увеличение тетрагонального теплового расширенияα c . Результаты интерпретируются в терминах растяжения связей. Пик, обнаруженный при 590°C, связан с разложением четырехкомпонентного соединения на две фазы. При температуре 590°C появляются дополнительные линии в рентгеновских измерениях величины θ 15.3133o, 18.8235o, 21.0230o, 24.5633o, 36.3712o, и 34.7926o. Зти новые дополнительные линии (вторая фаза), по-видимому, связаны с SnSe2.

Preview

Unable to display preview. Download preview PDF.

Unable to display preview. Download preview PDF.

Literatur

  1. (1).
    H. G. Bruhl, H. Newmann andG. Kuhn:Solid State Commun.,34, 225 (1980).CrossRefGoogle Scholar
  2. (2).
    S. Adán López-Rivera: Ph.D. Thesis, Bath University (1981).Google Scholar
  3. (3).
    S. C. Abrahams andJ. L. Burnstein:J. Chem. Phys.,52, 5607 (1970).CrossRefGoogle Scholar
  4. (4).
    A. Miller, R. G. Humphreys andB. Chapman:Appl. Phys. Suppl. C. 36, 3 (1975).Google Scholar
  5. (5).
    W. B. Pearson:Handbook of Lattice Spacings and Structures of Metals and Alloys, Vol.2 (Oxford, 1976).Google Scholar
  6. (6).
    F. D. Enck andJ. G. Dommet:J. Appl. Phys.,36, 839 (1965).CrossRefGoogle Scholar

Copyright information

© Società Italiana di Fisica 1983

Authors and Affiliations

  • S. Adán López-Rivera
    • 1
  • B. R. Pamplin
    • 2
  • J. C. Woolley
    • 3
  1. 1.Departmento de FísicaUniversidad de Los AndesMéridaVenezuela
  2. 2.University of BathBath
  3. 3.Physics DepartmentUniversity of OttawaOttawaCanada

Personalised recommendations