Experientia

, Volume 24, Issue 7, pp 653–653 | Cite as

X-ray research of polycrystals. X-ray diffraction methods for precision determinations of polycrystal lattice parameters over unsolved double lines

  • G. V. Davydov
  • V. P. Dzekanovskaya
  • N. A. Erokhov
Specialia Mathematica. Physica
  • 51 Downloads

Keywords

Tungsten Refraction Line Profile Diffractional Line Spectral Distribution 

Выводы

Предложена методика рентгенографи ческого прецизионного определения параметров решетки поликристаллов по неразрешенным дублетным линиям. Проведена экспериментальная проверка метода на образцах армко-железа и вольфрама.

References

  1. 1.
    G. V. Davydov, V. P. Dzekanovskaya andN. A. Erokhov, Experientia23, 349 (1967).CrossRefPubMedGoogle Scholar

Copyright information

© Birkhäuser Verlag 1968

Authors and Affiliations

  • G. V. Davydov
    • 1
  • V. P. Dzekanovskaya
    • 1
  • N. A. Erokhov
    • 1
  1. 1.Pedagogical State InstituteMoskvaUSSR

Personalised recommendations