Advertisement

Experientia

, Volume 24, Issue 7, pp 653–653 | Cite as

X-ray research of polycrystals. X-ray diffraction methods for precision determinations of polycrystal lattice parameters over unsolved double lines

  • G. V. Davydov
  • V. P. Dzekanovskaya
  • N. A. Erokhov
Specialia Mathematica. Physica
  • 62 Downloads

Keywords

Tungsten Refraction Line Profile Diffractional Line Spectral Distribution 
These keywords were added by machine and not by the authors. This process is experimental and the keywords may be updated as the learning algorithm improves.

Выводы

Предложена методика рентгенографи ческого прецизионного определения параметров решетки поликристаллов по неразрешенным дублетным линиям. Проведена экспериментальная проверка метода на образцах армко-железа и вольфрама.

References

  1. 1.
    G. V. Davydov, V. P. Dzekanovskaya andN. A. Erokhov, Experientia23, 349 (1967).CrossRefPubMedGoogle Scholar

Copyright information

© Birkhäuser Verlag 1968

Authors and Affiliations

  • G. V. Davydov
    • 1
  • V. P. Dzekanovskaya
    • 1
  • N. A. Erokhov
    • 1
  1. 1.Pedagogical State InstituteMoskvaUSSR

Personalised recommendations