Kolloid-Zeitschrift und Zeitschrift für Polymere

, Volume 226, Issue 1, pp 30–40 | Cite as

Über Zusammenhänge zwischen der Röntgenkleinwinkelstreuung und der morphologischen Struktur verstreckter Hochpolymerer

  • E. W. Fischer
  • H. Goddar
  • G. F. Schmidt
Originalarbeiten Polymere

Zusammenfassung

In der vorliegenden Arbeit wird über Versuche berichtet, die Ergebnisse der Röntgenkleinwinkelstreuung an verstreckten Hochpolymeren mit Hilfe von elektronenmikroskopisch beobachtbaren Strukturen zu deuten. Geeignet behandelte elektronenmikroskopische Aufnahmen lassen sich als optische Gitter für Lichtbeugungsversuche verwenden. Die daran erhaltenen Lichtbeugungsdiagramme zeigen eine Intensitätsverteilung, die mit der röntgenographisch gemessenen gut übereinstimmt. Es ließ sich zeigen, daß die elektronenmikroskopisch an verschiedenen verstreckten Hochpolymeren (Polyäthylen, Polyoxymethylen und Polyäthylenterephthalat) gefundenen periodischen Querstrukturen nicht nur ihrem mittleren Abstand nach mit der röntgenographisch gefundenen Langperiode übereinstimmen, sondern daß sie auch die Intensitätsverteilung im Röntgenkleinwinkeldiagramm verständlich machen. Hieraus kann man den Schluß ziehen, daß die elektronenmikroskopisch beobachtete Oberflächenstruktur auch für das Innere massiver Proben als repräsentativ angesehen werden kann.

Summary

Experiments reported in this paper pursued an explanation of X-ray small angle scattering of drawn polymers in terms of morphological structures being observed in the electron microscope. After appropriate treatment electron micrographs can be used as optical lattices for light scattering experiments.

Diffraction patterns obtained in this manner show an intensity distribution which agrees quite well with that measured by X-rays. The striations observed electron-microscopically on the surface of various drawn polymers (PE, OPM, and PET) may explain the small angle X-ray pattern with respect to both long spacing and intensity distribution. So the surface structure observed by means of electron microscope is representative of the complete bulk sample.

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Copyright information

© Dr. Dietrich Steinkopff Verlag 1968

Authors and Affiliations

  • E. W. Fischer
    • 1
  • H. Goddar
    • 1
  • G. F. Schmidt
    • 1
  1. 1.Laboratorium für Physik der HochpolymerenInstitut für Physikalische Chemie der UniversitätMainz

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