Die optischen Konstanten durchsichtigen Silbers

Zusammenfassung

Es wird eine Methode beschrieben, die es gestattet, die optischen Parameter dünner absorbierender Schichten bekannter Dicke, die auf einer durchsichtigen Trägerplatte aufgebracht sind, aus der Intensität des reflektierten und durchgelassenen Lichtes zu bestimmen. Die Methode wird auf Silberschichten angewandt, die durch Sublimation im Hochvakuum hergestellt sind. Es ergeben sich ähnliche Anomalien, wie sie an kathodisch und chemisch erzeugten Schichten bekannt sind. Die Abhängigkeit der optischen Konstanten von der Dicke wird diskutiert. Ein Vergleich des Ergebnisses mit dem von Pogány nach anderer Methode gewonnenen gleichen Ergebnis läßt darauf schließen, daß die Dichte des Silbers in einer Dicke von 15mμ nicht von der des massiven Silbers abweicht.