Beugung Eines Parallelen Monochromatischen Röntgenstrahlenbündels an Einer Ebenen Polykristallinen Probe

Abstract

Measurements were made of the intensity of a parallel monochromatic beam of X-rays diffracted on a plane sample of germanium powder. The measured values were compared with those calculated from geometrical considerations.

Zusammenfassung

Bei der Anwendung der beschriebenen Einrichtung als Diffraktograph ließe sich ein hohes Winkel-Auflösungsvermögen (bei der Separation zweier naher Beugungslinien) in Abhängigkeit von der Breite der Kristallfunktionen eines pulverförmigen Präparats in den entsprechenden Gitterebenen und von der Wahl der Gitterparameter der vollkommenen Kristalle des Doppelkristallmonochromators und des Analysierungskristalls erreichen. Die Intensität der gebeugten Linien ist jedoch sehr niedrig, so daß für eine automatische Registrierung der Linien in einem weiteren Winkelbereich sehr lange Zeit erforderlich wäre.