Abstract
Thin metal films are evaporated onto a cooled Be-foil at 15–19 K in high vacuum. The specific heat is measured in the temperature range from 2.5–5 K after condensation and after annealing. The specific heat of disordered Pb- and In-films is about 1.5 times larger than that of annealed films. The additional contribution to the specific heat of amorphous Pb-, Bi- and Tl-films increases with decreasing temperature.
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Über Teile der Arbeit wurde von W. Sander auf dem Winter-kolloquium der DFG: „Die Eigenschaften von stark gestörten und amorphen Metallen“ vom 19. 2.–23. 2. 1973 in Schleching (Oberbayern) berichtet.
Herrn Prof. Dr. W. Sander danke ich sehr herzlich für die Förderung und für das Interesse am Fortgang dieser Arbeit und Herrn Dipl.- Phys. A. Comberg für die Aufstellung eines Computerprogramms zur Auswertung der Meßkurven. Mein Dank gilt weiter Herrn Prof. Dr. W. Buckel, Herrn Dr. Ch. Ohlerich und Herrn Dr. G. Bergmann für anregende Diskussionen und für die vorzeitige Mitteilung ihrer Ergebnisse.
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Ewert, S. Messung der spezifischen Wärme von gestörten und amorphen Indium-, Blei-, Thallium- und Wismut-Schichten bei tiefer Temperatur. Z. Physik 267, 283–286 (1974). https://doi.org/10.1007/BF01669449
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DOI: https://doi.org/10.1007/BF01669449