Zusammenfassung
An Selen-Gleichrichtern und -Sperrschichtzellen mit verschiedenen Deckmetallen und veränderter Aufbringung der Deckelektroden werden in Abhängigkeit von der Vorspannung Wechsel- und Gleichstrommessungen ausgeführt, Richtkonstante und Kennlinienverlauf im Sperrgebiet, sowie die Temperaturabhängigkeit des Sperrschichtwiderstandes und der Kapazität ermittelt. Die Messungen ergeben, daß man für Selengleichrichter eine Randschicht im „Erschöpfungsgebiet“ annehmen kann. Die Voraussetzungen der homogenen Schottkyschen Randschichttheorie sind im Gegensatz zum Kupferoxydul-Gleichrichter gut erfüllt, doch spielen Feldemissionseffekte eine erhebliche Rolle.
This is a preview of subscription content, log in via an institution to check access.
Author information
Authors and Affiliations
Additional information
D 143.
Herrn Prof. Dr. B. Gudden bin ich für Anregung zu dieser Arbeit und ihm sowie Herrn Dr. F. Eckart für tatkräftige Förderung dankbar. Besonderen Dank schulde ich auch Herrn Prof. Dr. W. Schottky für zahlreiche wertvolle briefliche Diskussionen und Anregungen, sowie für die Mitteilung der Ergebnisse seiner zusammen mit Dr. E. Spenke erweiterten Theorie.
Der Süddeutschen Apparate-Fabrik Nürnberg, insbesondere Herrn Direktor E. Körber, danken wir für die Bereitstellung der Mittel zur Durchführung dieser Arbeit.
Rights and permissions
About this article
Cite this article
Schmidt, A. Messungen an Selen-Gleichrichtern und -Sperrschichtzellen. Z. Physik 117, 754–773 (1941). https://doi.org/10.1007/BF01668878
Received:
Issue Date:
DOI: https://doi.org/10.1007/BF01668878