Theorie des elektrischen Elektronenmikroskops für Selbststrahler

Zusammenfassung

Zur -Berechnung der Elektronenbahnen in Selbststrahlungs-Mikroskopen wird ein Verfahren angegeben, das frei ist von der bei Selbststrahlern nicht erfüllten Voraussetzung eines durchweg Meinen Neigungswinkels zwischen Elektronenbahn und optischer Achse. Die Methode kann als Reihenentwicklung nach √ɛ/U betrachtet werden, wo ɛ die der Austrittsenergie entsprechende Spannung und U die Beschleunigungsspannung der Elektronen ist. Die Gaußsche Näherung wird berechnet, ferner werden die Abbildungsfehler bis zu einer solchen Näherung bestimmt, daß die sogenannten Fehler dritter Ordnung in den berechneten Werten vollständig enthalten sind. Die Begrenzung des Auflösungsvermögens durch die geometrisch-optischen und den chromatischen Fehler wird bestimmt und die errechnete Auflösung mit experimentellen Werten verglichen. Die Fehler haben um so weniger Einfluß auf das Auflösungsvermögen, je schmaler die Energieverteilungskurve der Elektronen ist und je größer das Feld an der Kathode ist. Es werden die Bedingungen festgelegt und an dem Immersionsobjektiv von Johannson erläutert, unter denen dieses System ein Übermikroskop werden kann.