Zusammenfassung
Mit einem Lichtbogenschmelzofen werden binäre Proben der Systeme Nb-Sn, Nb-Al, Nb-Ga, V-Si und V-Ga sowie ternäre Proben der Zusammensetzung Nb3Sn mit teilweisem Ersatz des Niobs durch Titan, Zirkon, Vanadium und Tantal geschmolzen. Induktions- und Widerstandsmessungen ergeben Übergangstemperatur und -breite dieser Schmelzproben im ungetemperten und getemperten Zustand. Durch Strukturuntersuchungen wird eine Zuordnung der binären Proben und ihrer Supraleitungseigenschaften zu den bekannten Zustandsdiagrammen der Systeme vorgenommen.
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Im Auszug vorgetragen auf der Sitzung des Fachausschusses „Tiefe Temperaturen“ der Deutschen Physikalischen Gesellschaft in Karlsruhe am 20. März 1964 und auf der IXth International Conference on Low Temperature Physics in Columbus, Ohio/USA am 3. September 1964.
Der Deutschen Forschungsgemeinschaft und der Fraunhofer-Gesellschaft danken wir für die Gewährung von Sach- und Personalmitteln zur Durchführung dieser Arbeit.
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Kunz, W., Saur, E. Zur Supraleitung von Schmelzproben der Systeme Nb-Sn, Nb-Al, Nb-Ga, V-Si und V-Ga. Z. Physik 189, 401–416 (1966). https://doi.org/10.1007/BF01375493
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DOI: https://doi.org/10.1007/BF01375493