Phasen- und Amplitudenmessung durch Elliptizitätsanalyse an Phasenkontrastbildern

Zusammenfassung

Das Verfahren zur Phasen- und Amplitudenmessung an mikroskopischen oder makroskopischen Objekten beruht auf der Überdeckung zweier verschiedener Phasenkontrastbilder, die senkrecht zueinander polarisiert sind. Lage und Form der Schwingungsellipse am Bildort des Objekts geben Amplitude und Phase des Objekts mit einem mittleren Fehler der Einzelmessung an der Amplitude ± 0,4 ‰, an der Phase± λ/500 (Reproduzierbarkeit ± λ/1600). Das Gerät zur Durchführung des Verfahrens ist ein mit polarisiertem Licht arbeitendes Phasenkontrastgerät, dessen Phasenplatte ersetzt ist z. B. durch eine durchbohrte Gips- oder Glimmerplatte. Die hohe Genauigkeit bei bequemen Fertigungstoleranzen beruht unter anderem darauf, daß Polarisatoren nur in phasenunempfindlichen Teilen des Strahlenganges und fugenlos ineinander einzufügende Phasenschieber überhaupt nicht benötigt werden und daß die Dicke der Gips- oder Glimmerplatte nicht genau vorgeschrieben zu werden braucht.