Zusammenfassung
Die Daten bindemittelarmer Photoschichten für Elektronenschwärzung bei den Voltgeschwindigkeiten der übermikroskopie werden unter Berücksichtigung einer neueren Untersuchung diskutiert und die gute Eignung dieser Schichten für übermikroskopische Zwecke bestätigt.
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von Ardenne, M. Zur Eignung bindemittelarmer Photoschichten in der Elektronen-übermikroskopie. Z. Physik 121, 1–6 (1943). https://doi.org/10.1007/BF01336917
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DOI: https://doi.org/10.1007/BF01336917