Zusammenfassung
Zum ersten Male wird eine Methode der quantitativen photographischen Photometrie veröffentlicht, die gestattet, mit nur einer Aufnahme Resultate bisher nie erreichter Genauigkeit zu erhalten. Im Gegensatz zu früheren Arbeiten anderer Forscher werden hier Dickenschwankungen der photographischen Schicht als Hauptfehlerursache eigener Größenordnung erkannt und in Rechnung gezogen. Diese Fehler werden beseitigt durch ein „Schichtdickenverteilungsdiagramm der photographischen Platte“ in Verbindung mit einem zu der betreffenden Emulsion gehörigen „Korrektionsdiagramm“, welch letzteres die Schar der charakteristischen Kurven für verschiedene Schichtdicken (ceteris paribus) darstellt. Beide Diagramme werden eigenartig auf Grund von Transparenzmessungen mit inaktinischem Infrarotlicht zwischen etwa 1000 und 3000 mμ ermittelt. Weitere wissenschaftliche und technische Verwendungsmöglichkeiten grundlegender Art werden angeführt.
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Bandermann, W.H.E. Beitrag zur quantitativen photographischen Photometrie. Z. Physik 90, 266–278 (1934). https://doi.org/10.1007/BF01333519
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DOI: https://doi.org/10.1007/BF01333519