Zusammenfassung
Die Thermospannung an den Enden eines Thermoelementes, für dessen Einzelteile Entartung-Nichtentartung-Entartung vorliegt, wird für den Fall einer Temperaturabhängigkeit der Elektronenkonzentration im Halbleiter, wie sie bei Cu2O anzunehmen ist, nach der Fermischen Statistik berechnet. Die Rechnung führt bei Cu2O auf eine Beziehung, die im wesentlichen nur das über den Halbleiter zu erstreckende Teilintegral des Gesamtpotentials enthält. Danach ist die Thermospannung allein durch die Größe der Temperaturabhängigkeit der Elektronenkonzentration bestimmt. Das Ergebnis stimmt im Absolutwert mit Messungen von Vogt denkbar gut überein.
Author information
Authors and Affiliations
Rights and permissions
About this article
Cite this article
Mönch, G. Zur Theorie der Thermospannungen zwischen Halbleiter und Metall auf Grund der Fermischen Statistik. Z. Physik 83, 247–252 (1933). https://doi.org/10.1007/BF01331144
Received:
Issue Date:
DOI: https://doi.org/10.1007/BF01331144