Photometrische Bestimmung seltener Isotope

Zusammenfassung

Die kürzlich ausgearbeitete photometrische Methode der Eichelemente zur Ermittlung von relativen Isotopenhäufigkeiten ergab bei Bestimmung von Isotopen etwa gleicher Häufigkeit die gleiche Meßgenauigkeit wie sie bei elektrometrischer Messung erhalten wird. Bei Vergleich von häufigen und selteneren Isotopen war die erreichbare Genauigkeit geringer, weil der brauchbare Bereich der Schwärzungskurve begrenzt ist. Unter der Voraussetzung der Verwendung einer konstanten Ionenquelle wurde nun eine Erweiterung der Methode erprobt, die diese Schwierigkeit überwindet, ebenfalls ohne irgendeine Annahme über die Schwärzungsfunktion der Platte vorauszusetzen. Die Prüfung des Verfahrens geschah durch Bestimmung der Verhältnisse¹²⁸Xe∶¹²⁴Xe und¹²⁸Xe ∶¹²⁶Xe mit Kr als Eichelement. Die Streuung (wahrscheinlicher Fehler) der Einzelergebnisse hatte nun die gleiche geringe Größe, wie sie bisher nur bei Linienverhältnissesen etwa der Größe 1 erhalten wurde. Dies Verfahren wurde daraufhin bei der Bestimmung der relativen Häufigkeiten der Nickelisotope mit angewendet, für diese ergab sich:

Massenzahl .............	58	60	61	62	64
Prozentuale Häufigkeit ...	69,18	25,82	0,97	3,28	0,75
Wahrscheinlicher Fehler ..	1%	2%	3%	2%	4%

und daraus das chemische Atomgewicht von Nickel 58,66₂±0,02₅.