Die Untersuchung dünner absorbierender Schichten mit Hilfe der absoluten Phase

Zusammenfassung

In dieser Arbeit werdendünne absorbierende Schichten (d.h. Dicke klein gegen die Wellenlänge) untersucht, unter Heranziehung der absoluten Phase, die nach einem früher angegebenen Verfahren gemessen werden kann. Mit Hilfe dieser neuen Meßgrößen können für die optischen Konstanteneindeutige Werte gewonnen und die „optische Schichtdicke“ kann bestimmt werden. Nimmt man die Wägungsdicke hinzu, dann erhält man denFüllfaktor, der für den Vergleich zwischen Experiment und Theorie benötigt wird und bisher nicht direkt ermittelt werden konnte. Es wird gezeigt, daß die Anomalie der optischen Konstanten nicht erklärt werden kann, wenn man mit früheren Forschern annimmt, daß die Schichten aus kugelförmigen räumlich verteilten Tröpfchen aufgebaut sind. Dagegen stimmen Experiment und Theorie bei dünnsten Schichten überein, wenn man eineflächenhafte Verteilung von Rotationsellipsoiden der Rechnung zugrunde legt. Dabei werden nicht die optischen Konstanten getrennt bestimmt, sondern es wird die gesamte von der Schicht verursachte (komplexe)dielektrische Verschiebung ermittelt, die sich relativ genau bestimmen läßt. Da stets bei senkrechter Inzidenz beobachtet wird, werden Störungen durch eventuelle Anisotropie der Schichten vermieden.