Zusammenfassung
Die Sekundärelektronenausbeuteγ von aktiviertem CuBe beim Beschuß mit He+-, Ne+-, Ar+-, Kr+-, Xe+-Ionen im Energiebereich von 0,3–3 keV liegt um circa 300% höher als die Ausbeuteγ des unaktivierten CuBe. Die in dieser Höhe bisher nicht beobachtete Ausbeutesteigerung wird auf einen halbleitenden Oberflächencharakter des aktivierten CuBe zurückgeführt. Als Maß für die Güte der genau bekannten Aktivierung dient die Sekundärelektronenausbeuteδ bei Elektronenbeschuß. In Hinsicht auf die Verwendung in Multipliern durchgeführter Dauerbeschuß zeigt, daß die aktivierte Schicht bei größeren Belastungen zerstört wird.
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Herrn Prof. Dr. F.Kirchner zum 70. Geburtstag gewidmet.
Auszugsweise vorgetragen am 21.4.1965 auf der Frühjahrstagung des Regional-verbandes Bayern in der DPG in Würzburg; Phys. Verh. DPG2, 46 (1965).
Herrn Prof. Dr. F.Kirchner möchte ich für die Anregung zu dieser Arbeit und die Bereitstellung von Institutsmitteln herzlich danken.
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Baumhäkel, R. Elektronenemission von intermetallischen Verbindungen bei Ionenbeschuß. Z. Physik 199, 41–55 (1967). https://doi.org/10.1007/BF01326013
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DOI: https://doi.org/10.1007/BF01326013