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Spektralphotometrische Bestimmung von Silberbeimischungen in dünnen Cd- Hg- Te-Schichten nach der Dithizonmethode

Spectrophotometric determination of silver admixtures in thin Cd- Hg- Te layers by the dithizone method

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Microchimica Acta Aims and scope Submit manuscript

Zusammenfassung

Eine Dithizon-Methode zur Bestimmung von Silberbeimischungen (0,5–10μg) in dünnen Cadmium-Quecksilber-Tellur-Schichten in Gegenwart von bedeutendem Quecksilberüberschuß wurde entwickelt. Quecksilber wird von Silber durch Abrauchen mit Schwefelsäure abgetrennt, wobei Silberspuren zusammen mit zugesetztem Kaliumsulfat zurückbleiben. Die Methode wurde mit Hilfe von Standardlösungen sowie durch Analysieren von Proben dünner Schichten geprüft. Die Bestimmung von Silber erfolgt mit guter Genauigkeit, nur sind die Ergebnisse um ca. 10% zu niedrig.

Summary

A dithizone method was developed for determining silver impurities (0.5–1.0μg) in thin cadmium-mercury-tellurium layers in the presence of a considerable excess of mercury. The mercury was separated from the silver by vaporizing with sulfuric acid, which leaves traces of silver together with added potassium sulfate. The method was tested with the aid of standard solutions as well as by analysing samples of thin layers. Silver was determined with good accuracy, but the results are about 10% too low.

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Marczenko, Z., Podsiadlo, E. Spektralphotometrische Bestimmung von Silberbeimischungen in dünnen Cd- Hg- Te-Schichten nach der Dithizonmethode. Mikrochim Acta 66, 317–322 (1976). https://doi.org/10.1007/BF01220274

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