Zusammenfassung
Es wird über ein Anregungsgerät berichtet, das bei gleichzeitiger Verwendung von Hochfrequenz- und Gleichstrom bei großer Variationsbreite der Anregungsbedingungen die Spektralanalyse kleiner Einschlüsse in Gesteinen und Metallen (point-to-plane) bei kurzen Belichtungszeiten-bis zu 10 secerlaubt.
Summary
A report is given of an inciting device, which with simultaneous use of high frequency and direct current at great variation ranges of the activation conditions, permits the spectral analysis of small inclusions in rocks, and metals (point-to-plane) at short irradiation periods (up to 10 seconds).
Résumé
Description d'un dispositif d'excitation qui permet l'analyse spectrale de petites inclusions dans les roches et les métaux (pointe sur plan), avec de courts temps d'éclairement (jusqu'à 10 secondes), par l'emploi simultané de courants de haute fréquence et continu et dans un vaste domaine de variation des conditions d'excitation.
Literatur
Wa. Gerlach undE. Schweitzer, Z, anorg. Chem.195, 255 (1931); Die chemische Spektralanalyse, 1. Teil. Grundlagen und Methoden. Leipzig: Voss 1930;Wa. Gerlach undW. Rollwagen, Metallwirtschaft16, 1083 (1937).
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vgl.J. K. Hurwitz, Spectrochim. Acta6, 247 (1954).
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Vorgetragen vonFranziska Pruckner.
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Maucher, A., Auerhammer, S. Spektralanalytische Bestimmung kleiner Einschlüsse in Gesteinen mittels Hochfrequenzanregung. Mikrochim Acta 44, 401–405 (1956). https://doi.org/10.1007/BF01216625
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DOI: https://doi.org/10.1007/BF01216625