Sekundärionenmassenspektrometrische Untersuchungen an dünnen Filmen aus organischen Ammoniumsalzen auf Edelmetallen

Zusammenfassung

Auf Edelmetalle aufgebrachte dünne Filme einer Reihe von Ammoniumsalzen wurden mit der SIMS unter statischen Bedingungen untersucht. Unter Beschuß mit Argonionen von 3 keV erwies sich bei aliphatischen Salzen meist das Quasi-Molekülkation [M-Anion]⁺ als häufigstes Sekundärion. Die Anwesenheit aromatischer Reste führte zum/e=[M-Anion-1]⁺ als intensivstem Peak sowie zu Komplexen dieses Ions mit dem Basismetall.

Summary

Thin films consisting of ammonia salts on precious metals were studied by the method of static SIMS. For aliphatic salts the parent-like ion [M-anion]⁺ proved to be the most abundant secondary ion under bombardment by 3 keV-argon ions. Aromatic groups causedm/e=[M-anion-1]⁺ to be the strongest peak and formation of clusters of this ion with target atoms.