Zusammenfassung
Die Auger-Elektronenspektroskopie (AES) wird vornehmlich für die Oberflächenanalyse metallischer Materialien und von Halbleitern verwendet, Untersuchungen von Nichtleitern, wie Katalysatoren, Glas, Keramik und andere, werden vor allem durch den Einfluß des primären Elektronenstrahls auf die Veränderung der Zusammensetzung der analysierten Oberfläche und durch ihre elektrostatische Aufladung während der Analyse erschwert.
Durch eine besondere Probenvorbereitung, bei der nichtleitende Materialien in eine elektrisch leitfähige Silberpaste eingebettet wurden, und durch eine entsprechende Auswahl der Analysenparameter kann ein elektrostatisches Aufladen während der AES-Analyse verhindert werden. Gezeigt werden Auger-Elektronenspektren der Oberfläche von Zeolithen, pigmentierten Dispersionsfilmen, Mineralwolle, Zement, Fresken und Nierensteinen.
Summary
Auger electron spectroscopy is the analytical method, mostly used for surface analysis of metals and semiconductors, but has also become more often used to analyse insulators such as catalysts, glass and ceramic. Analysis of insulators with AES is usually interfered with an electrostatic charging effect and because of the influence of the primary electron beam on the change of the composition of the surface being analysed.
The charging of non-metallic materials during the AES anlaysis has been overcome by means of specially prepared samples being laid in an electrically conductive silver paint and suitably chosen operating parameters. Auger spectra of catalysts, pigmented copolymeric films, mineral wool, cement, fresco and renal stone are presented.
Literatur
N. J. Taylor, Basic Auger Concepts, Varian Associates, Palo Alto, 1970.
C. C. Chang, Surf. Sc.25, 53 (1971).
B. Goldstein und D. E. Carlson, Journal of the American Ceram. Soc. Discussions and Notes55, 51 (1972).
B. Carriere, J. P. Deville und S. Goldsztaub, Silicates Industriels, 1974-11, 313.
C. G. Pantano, Jr., D. B. Dove und G. Y. Onoda, Jr., Non-Crystalline Solids19, 41 (1975).
S. Thomas, J. Appl. Phys.45, 161 (1974).
J. S. Johannessen und W. E. Spicer, J. App. Physics47, 3028 (1976).
C. G. Pantano, Jr., D. B. Dove und G. Y. Onoda, Jr., J. Vac. Technol.13, 414 (1976).
P. T. Dawson, O. S. Meavens und A. M. Pollard, J. Phys. C: Solid State Phys.11, 2183 (1978).
T. E. Madey und J. T. Yates, Jr., J. Vac. Sc. Technol.8, 525 (1971).
A. Joshi und L. E. Davis, J. Vac. Sc. Technol.14, 1310 (1977).
R. E. Kirby und D. Lichtman, Surf. Sc.41, 447 (1974).
J. Verhoeven und J. Los, Surf. Sc.58, 566 (1976).
H. J. Mathieu et al., J. Vac. Sci. Technol.14, No. 4 (1977).
S. Hofmann und A. Zalar, Thin Solid Films56, 337 (1979).
S. Hofmann, Auger Electron Spectroscopy, in Comprehensive Analytical Chem. G. Svehla, ed., Vol. IX, Amsterdam: Elsevier. 1979.
H. G. Suzuki und K. Yamamoto, Mat. Sc. and Engin.33, 57 (1978).
R. E. Kirby und J. W. Dieball, Surf. Sc.41, 467 (1974).
C. C. Chang, in edit. P. F. Kane und G. B. Larrabe, Characterization of Solid Surfaces, New York: Plenum Press. 1974, S. 509.
R. Le Bihan, Proc. 7th Intern. Vac. Congr., 3rd Intern. Conf. Solid Surfaces, Vienna,1977, 2351.
T. E. Madey, C. D. Wagner und A. Joshi, J. El. Spectr. and Rel. Phen.10, 359 (1977).
D. W. Breck, Zeolite Molecular Sieves (Structure, Chemistry and Use), New York: Wiley. 1974. S. 771.
S. Hočevar et al., JUVAK, Bilten 17, Bled, 1979, 437.
G. V. Echevskii, K. G. Ione, L. A. Vostrikhova und L. S. Egorova, Katalizatory processov polucheniya i prevrascheniya senristyh soedinenii, Sb nauchnyh trudov, Institut kataliza SO AN SSR, Novosibirsk, 1979, 131.
E. Kiš, Ispitivanje uslova stvaranja spinela Ni na različitim oblicima Al2O3. Disertacija, Novi Sad, 1980.
Š. Skledar, Kunststoffe-Fortschrittsberichte, Bd. 5, München: C. Hanser. 1980, S. 326.
V. Pirnat-Šmuc, J. Jamnik und A. Zalar, Jug. kong. za hem. i hem. tehnologiju, Sinopsisi, Sarajevo, 1979. S. 263.
Author information
Authors and Affiliations
Additional information
Grenzflächenprobleme V, IEVT-MPI, Ljubljana, 15.–16. 4. 1980.
Rights and permissions
About this article
Cite this article
Zalar, A. Oberflächenuntersuchungen von Isolatoren mit der Auger-Elektronenspektroskopie. Mikrochim Acta 73, 435–444 (1980). https://doi.org/10.1007/BF01196330
Received:
Issue Date:
DOI: https://doi.org/10.1007/BF01196330