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Röntgenographische Untersuchungen im System Tantal-Silizium

  • Physikalische, Anorganische und Analytische Chemie
  • Published:
Monatshefte für Chemie und verwandte Teile anderer Wissenschaften Aims and scope Submit manuscript

Zusammenfassung

Bei der röntgenographischen Untersuchung des Systems Tantal-Silizium werden nachstehende intermediäre Kristallarten gefunden:

Ta4,5±0,5Si kristallisiert mit den Gitterkonstanten:a=6,093;c=4,909 k X·E undc/a=0,806 im D 019-Typ.

Ta2Si ist mit der C 16-Struktur isotyp.a=6,145;c=5,029 k X·E undc/a=0,818.

Ta5Si3 hat D 88-Struktur mit den Gitterkonstanten:a=7,459;c=5,215 k X·E undc/a=0,699. Diese Phase ist vermutlich dimorph. Die Hochtemperaturstruktur wurde noch nicht aufgeklärt.

Die Struktur von TaSi2 kann bestätigt werden. Tantal löst unter Gitteraufweitung weniger als 0,2% Si bei 1800° C.

Silizium vermag kein Tantal in fester Lösung aufzunehmen.

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Authors and Affiliations

  1. Institut für Physikalische Chemie der Technischen Hochschule Wien, Wien, Österreich

    H. Nowotny, H. Schachner, R. Kieffer & F. Benesovsky

  2. Versuchsanstalt der Metallwerk-Plansee-G. m. b. H. in Reutte/Tirol, Reutte/Tirol, Österreich

    H. Nowotny, H. Schachner, R. Kieffer & F. Benesovsky

Authors
  1. H. Nowotny
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  2. H. Schachner
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  3. R. Kieffer
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  4. F. Benesovsky
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Nowotny, H., Schachner, H., Kieffer, R. et al. Röntgenographische Untersuchungen im System Tantal-Silizium. Monatshefte für Chemie 84, 1–12 (1953). https://doi.org/10.1007/BF00899117

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