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Untersuchungen am System SiO2/H2O im nahen Ultrarot

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Zusammenfassung

Von 2 bis 3 mm dicken Silicagel-Dünnschliffen wurden im nahen Ultrarot (4000 bis 10 000 cm−1) gut auswertbare Spektren erhalten. Intensitätsänderungen und Lageverschiebungen an unbehandelten und bei 800°C geglühten Silicagel wurden diskutiert. Eine Bestimmung des chemisch gebundenen Wassers und des absorbierten Wassers war möglich durch das Aufstellen einer Eichkurve der Wasserkombinationsschwingungsbande bei 5265 cm−1 und Bestimmen des Gesamtwassers durch Glühen bei 1100°C. Der Gehalt an chemisch gebundenem Wasser in dem verwendeten Silicagel betrug 0,19 H2O/SiO2.

Das Spektrum der Fig. 1. wurde mit dem Perkin-Elmer-Spektralphotometer 221, alle anderen mit dem “Beckman”-Spektralphotometer DK 2 aufgenommen.

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Authors and Affiliations

  1. Frankfurt/Main-Höchst

    Günter Wirzing

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  1. Günter Wirzing
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Professor Dr.H. W. Kohlschütter zum 60. Geburtstag.

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Wirzing, G. Untersuchungen am System SiO2/H2O im nahen Ultrarot. Naturwissenschaften 50, 466–469 (1963). https://doi.org/10.1007/BF00632911

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