Summary
A thin-layer method of X-ray fluorescence analysis has been developed for determining the lanthanoides (except Pm) in the presence of each other with Sr as internal standard. Samples are prepared from solutions on filter paper. With suitable L-radiations, linear calibration curves are obtained up to saturated solutions. Matrix effects are eliminated, reflection overlap is corrected efficiently. Statistical detection limits are between 0.2 and 0.6 μg/cm2, i.e. between 20 and 60 ppm in solution.
Zusammenfassung
Zur Bestimmung aller Lanthanoiden (außer Pm) nebeneinander mit Sr als innerem Standard wurde eine RFA-Dünnschichtmethode entwickelt, bei der die Proben aus Lösungen auf Filterpapier hergestellt werden. Für geeignete L-Strahlungen sind die Eichkurven bis zu gesättigten Lösungen linear. Matrixeffekte werden eliminiert, Reflexüberlagerungen lassen sich wirksam korrigieren. Die statistischen Nachweisgrenzen betragen zwischen 0,2 und 0,6 μg/cm2, d. h. bezogen auf die Lösung zwischen 20 und 60 ppm.
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Wir danken dem Fonds der Chemischen Industrie für die Förderung dieser Untersuchung.
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Külcü, N., Trömel, M. Zur Bestimmung der Lanthanoiden durch Röntgenfluorescenzanalyse. Z. Anal. Chem. 318, 604–607 (1984). https://doi.org/10.1007/BF00529120
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DOI: https://doi.org/10.1007/BF00529120