Zusammenfassung
Für die Beurteilung von Leitfähigkeitsmessungen an Halbleiterselen ist besonders die Kenntnis des Halogengehaltes der Selenproben von Wichtigkeit. Es werden zwei Verfahren zur Mikrobestimmung des Broms in reinem Selen beschrieben, die sich zur Bestimmung eines Halogengehaltes von 0,1–0,2% bzw. von 10−3% eignen. Diese Verfahren können besonders zur Betriebsanalyse in Halbleiter- bzw. Gleichrichterwerken angewandt werden.
Summary
In the examination of selenium samples for semi-conductors the halide content is an important criterion for the estimation of electric conductivity. For the micro-determination of bromine in pure selenium two methods are described suitable for the range of halide content from 0.1 to 0.20% and 10−3%, respectively. These methods are especially applicable to analysis in plants of the semi-conductor and rectifier production.
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Literatur
Flaschka, H.: Mikrochem. verein. Mikrochim. Acta 39, 38 (1952); vgl. diese Z. 137, 453 (1952/53).
Flaschka, H., u. F. Huditz: diese Z. 137, 104 (1952/53).
Iwantscheff, G.: Angew. Chem. 62, 361 (1950); vgl. diese Z. 133, 447 (1951).
Pohl, F. A.: Mikrochim. Acta (Wien) 1956, 414; vgl. diese Z. 155, 239 (1957).
Schwarzenbach, J.: Die komplexometrische Titration, Stuttgart 1957.
Scott, A. A., and J. Moilliet: J. Amer. chem. Soc. 54, 205 (1932).
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Herrn Prof. Dr. C. F. Weiss danken wir für die Unterstützung bei der Durchführung der Arbeit.
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Koch, H., Schulze, K. Mikro-Brombestimmung in Halbleiterselen. Z. Anal. Chem. 210, 90–93 (1965). https://doi.org/10.1007/BF00519644
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