Fresenius' Zeitschrift für analytische Chemie

, Volume 314, Issue 3, pp 242–243 | Cite as

Vergleichende SNMS-, SIMS-, XPS- und AES-Analysen von Metallegierungen und nichtelementaren Halbleitern

  • K.-H. Müller
  • H. Oechsner
  • T. Halden
Originalmitteilungen bzw. Kurzfassungen der Vorträge

Comparative SNMS-, SIMS-, XPS- and AES-analysis of alloys and non-elemental semiconductors

Literatur

  1. 1.
    Oechsner H, Rühe W, Stumpe E (1979) Surface Sci 85:289Google Scholar
  2. 2.
    Oechsner H, Stumpe E (1977) Appl Phys 14:43Google Scholar

Copyright information

© Springer-Verlag 1983

Authors and Affiliations

  • K.-H. Müller
    • 1
  • H. Oechsner
    • 1
  • T. Halden
    • 1
  1. 1.Physikalisches Institut der TU ClausthalClausthal-ZellerfeldBundesrepublik Deutschland

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