Summary
In electron diffraction a thin dielectric layer on metal yields reflections disturbed by the dielectric effect. This was demonstrated with polyethylene and magnesium oxide layers formed on brass. The method described provides an electronanalytical means for distinguishing between a dielectric and a conductor. The dielectric constant of polyethylene (2.5 esu) in relation to that of magnesium oxide (10 esu) was calculated from the electron figures obtained.
Zusammenfassung
Eine dünne dielektrische Schicht auf Metall liefert bei Elektronenbeugung durch den dielektrischen Effekt gestörte Reflexe. Dies ließ sich an einer Polyäthylen- und einer Magnesiumoxidschicht auf Messing demonstrieren. Das Verfahren ist eine elektronenanalytische Möglichkeit zur Unterscheidung eines dielektrischen Prüfungsmaterials von einem Leiter. Aus den erhaltenen Elektronenbildern ließ sich die Dielektrizitätskonstante von Polyäthylen (2,5 esE) in Beziehung zu der von Magnesiumoxid (10 esE) berechnen.
Similar content being viewed by others
Literatur
Bauer, E.: Elektronenbeugung, S. 177 ff. München: Verlag Moderne Industrie 1958.
Yamaguchi, S.: diese Z. 177, 269 (1960).
Author information
Authors and Affiliations
Rights and permissions
About this article
Cite this article
Yamaguchi, S. Elektronenanalyse von Dielektrika. Z. Anal. Chem. 211, 241–243 (1965). https://doi.org/10.1007/BF00514081
Received:
Issue Date:
DOI: https://doi.org/10.1007/BF00514081