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Fresenius' Zeitschrift für analytische Chemie

, Volume 317, Issue 5, pp 539–546 | Cite as

Ultra-Spurenanalyse von Sinter-Tantal mit SIMS

  • M. Grasserbauer
  • H. M. Ortner
  • P. Wilhartitz
  • M. Pimminger
  • R. Leuprecht
Originalarbeiten

Zusammenfassung

Es wird über die Bedeutung und die Möglichkeiten der analytischen Charakterisierung von eigenschaftsbeeinflussenden Spurenelementen in Sinter-Tantal mit SIMS berichtet. Dabei wird gezeigt, daß SIMS einerseits erfolgreich für die quantitative Ultra-Spurenanalyse des kornstabilisierenden Elementes Y und andererseits für die semiquantitative Multielement-Spurenanalyse anderer Verunreinigungen eingesetzt werden kann. Diese Resultate ermöglichen die Untersuchung der Änderung der Spurenelementgehalte beim Sintern und der Zusammenhänge zwischen Y-Gehalt und Rekristallisationsgefüge.

Ultra-trace analysis of sinter-tantalum with SIMS

Summary

The technical significance and the analytical possibilities of characterizing trace elements which have a large influence on the properties of sinter-tantalum with SIMS are reported. It is shown that SIMS can successfully be used for the quantitative ultra-trace determination of the grain stabilizing element Y and for the semiquantitative multielement characterization of other impurities. The analytical results enable the study of the change of trace elements during sintering and of the influence of the Y-concentration on the microstructure of tantalum after annealing.

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Copyright information

© Springer-Verlag 1984

Authors and Affiliations

  • M. Grasserbauer
    • 1
  • H. M. Ortner
    • 2
  • P. Wilhartitz
    • 1
  • M. Pimminger
    • 1
  • R. Leuprecht
    • 2
  1. 1.Institut für Analytische ChemieTechnische Universität WienWienÖsterreich
  2. 2.Metallwerk Plansee GmbHReutteÖsterreich

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