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Fresenius' Zeitschrift für analytische Chemie

, Volume 291, Issue 3, pp 200–204 | Cite as

An X-ray fluorescence spectrometer with totally reflecting sample support for trace analysis at the ppb level

  • J. Knoth
  • H. Schwenke
Original Papers

Summary

An energy-dispersive X-ray spectrometer with a remotely controlled specimen exchanger is described. As sample supports optical flats made of quartz glass are used which totally reflect the exciting X-ray beam. By this method a reduction of the scattered radiation is obtained which leads to minimum detectable amounts below 0.05 ng or concentrations below 1 ppb for elements with atomic numbers 26–38 and 79–83. Special possibilities of sample preparations as well as the influence of matrices are discussed.

Key words

Röntgenfluorescenz-Spektrometrie Spektrometer mit totalreflektierendem ProbentrÄger 

Ein Röntgenfluorescenzspektrometer mit totalreflektierendem ProbentrÄger für Spurenanalysen im ppb-Bereich

Zusammenfassung

Es wird ein energiedispersives Röntgenfluorescenzspektrometer mit automatischem Probenwechsler beschrieben, dessen ProbentrÄger Quarzblöcke mit hochebener OberflÄche sind, die die anregende Strahlung total reflektieren. Dadurch wird eine Verminderung des Streustrahlungsuntergrundes erreicht, die für Elemente der Ordnungszahlen 26–38 und 79–83 zu Nachweisgrenzen unter 0,05 ng bzw. 1 ppb führt. Spezielle Möglichkeiten der Probenvorbereitung sowie Matrixeinflüsse werden diskutiert.

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Copyright information

© Springer-Verlag 1978

Authors and Affiliations

  • J. Knoth
    • 1
  • H. Schwenke
    • 1
  1. 1.Institut für PhysikGesellschaft für Kernenergieverwertung in Schiffbau und Schiffahrt mbHGeesthacht

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