Fresenius' Zeitschrift für analytische Chemie

, Volume 282, Issue 1, pp 21–23 | Cite as

Bestimmung von Elementspuren in Reinst-Cadmium durch Atomabsorptions-Spektrometrie nach Anreicherung durch partielles Lösen der Matrix

  • R. Höhn
  • E. Jackwerth
Originalabhandlungen

Zusammenfassung

Aus Reinst-Cadmium können durch partielles Lösen der Matrix die Elementspuren Ag, Au, Bi, Co, Cu, Fe, In, Ni, Pb, Pd und Sn angereichert werden. Dazu werden die Proben mit einem dünnen Quecksilberfilm überzogen und in Bromwasserstoffsäure bis auf einen kleinen Rest gelöst. Die im Löserückstand angereicherten Spuren werden durch Atomabsorptions-Spektrometrie bestimmt. Die relativen Standardabweichungen betragen etwa 0,05; die Anreicherungsausbeuten sind > 95%. Bei Einwaagen von 10 g Cadmium beträgt der Anreicherungsfaktor etwa 102; die Nachweisgrenzen (3σ-Grenzen) liegen um 0,1 ppm. Der Einfluß der Lösebedingungen auf die Anreicherung wird diskutiert.

Analyse von Cadmium Spektralphotometrie, Atomabsorption Anreicherung der Spuren durch partielles Lösen der Matrix 

Determination of trace elements in high-purity cadmium by AAS after preconcentration by partial dissolution of the matrix

Abstract

Trace elements such as Ag, Au, Bi, Co, Cu, Fe, In, Ni, Pb, Pd, and Sn can be preconcentrated from high-purity cadmium by partial dissolution of the matrix. The samples are coated by a thin film of mercury and dissolved in hydrobromic acid up to a small residue. In this residue the trace elements are enriched with recoveries of more than 95%. The elements are determined by AAS. For 10 g Cd the factor of enrichment is about 102, and the limits of detection are in the range of 0.1 ppm. The relative standard deviation was calculated to be about 5%. Reasons influencing the recovery of the trace elements are discussed.

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Literatur

  1. 1.
    Asmus, E., Altmann, H. J., Thomasz, E.: diese Z. 216, 3 (1966)Google Scholar
  2. 2.
    Gilbert, D., Sandell, E. B.: Microchem. J. 4, 491 (1960); vgl. diese Z. 184, 446 (1961)Google Scholar
  3. 3.
    Höhn, R.: Dissertation, Bochum 1975Google Scholar
  4. 4.
    Jackwerth, E., Döring, E., Lohmar, J., Schwark, G.: diese Z. 260, 177 (1972)Google Scholar
  5. 5.
    Jackwerth, E., Höhn, R., Koos, K.: diese Z. 264, 1 (1973)Google Scholar
  6. 6.
    Jangg, G.: Metall 19, 442 (1965)Google Scholar
  7. 7.
    Jangg, G., Jedlicka, H.: Electrochim. Acta 13, 679 (1968)Google Scholar
  8. 8.
    Jangg, G., Kirchmayr, H.: Z. Chem. 3, 47 (1963)Google Scholar
  9. 9.
    Reynolds, R. J., Lagden, D. S.: Analyst 96, 319 (1971)Google Scholar

Copyright information

© Springer-Verlag 1976

Authors and Affiliations

  • R. Höhn
    • 1
  • E. Jackwerth
    • 1
  1. 1.Institut für Spektrochemie und Angewandte SpektroskopieDortmund 1

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