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Kapazitätsmessungen an Selengleichrichtern

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Zusammenfassung

Nach der Schottkyschen Raumladungstheorie des Metall-Halbleiter-Kontaktes ist es möglich, aus Kapazitätsmessungen an Selengleichrichtern in Abhängigkeit von einer in Sperrichtung angelegten Gleichspannung die Akzeptorendichte im Selen zu bestimmen. Bei der Herstellung technischer Gleichrichter bildet sich jedoch zwischen der metallischen Deckelektrode und demp-leitenden Selen einen-leitende CdSe-Schicht aus, so daß es nicht ein Metall-Halbleiter-Kontakt, sondern der gitterfremden-p-Kontakt CdSe-Se ist, der den Sperrmechanismus bestimmt. Betrachtungen über diesen gitterfremdenn-p-Kontakt ergeben, daß man unter gewissen Voraussetzungen durch Kapazitätsmessungen an Selengleichrichtern neben der Akzeptorendichte im Selen auch die Donatorendichte im CdSe und die Dicke der CdSe-Schicht ermitteln kann. Meßergebnisse werden mitgeteilt.

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Dolega, U. Kapazitätsmessungen an Selengleichrichtern. Z. Physik 167, 46–52 (1962). https://doi.org/10.1007/BF02144652

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