Springer Nature is making SARS-CoV-2 and COVID-19 research free. View research | View latest news | Sign up for updates

The single crystal diffraction patterns of silicon

КРИВАЯ ОТРАЖЕНИЯ МОНОКРИСТАЛЛА Si

  • 1305 Accesses

  • 13 Citations

Abstract

A triple-crystal diffractometer is used to study the single crystal diffraction patterns of Si (111), (220), (333) and good agreement with the dynamical theory of X-ray diffraction on perfect single crystals is found. This proves the possibility of using Si single crystals as in X-ray spectroscopy for a double-crystal spectrometer with a high resolving power as well as for studying very narrow diffraction patterns by means of a triple-crystal diffractometer.

Abstract

С помощью трехкристалльного дифрактометра исследуется кривая отражения для кристаллов Si (111), (220), (333); показано хорошее согласие с динамической теорией дифракции рентгеновского излучения на совершенных монокристаллах. Тем самым показана возможность использования монокристаллов Si в спектроскопии рентгеновского излучения как для двухкристалльного спектрометра с большой разрешающей способностью, так и для исследования узких кривых отражения с помощью трехкристалльного дифрактометра.

This is a preview of subscription content, log in to check access.

References

  1. [1]

    Bubáková R., Drahokoupil J., Fingerland A.: Czech. J. Phys.B 11 (1961), 199.

  2. [2]

    Bubáková R., Drahokoupil J., Fingerland A.: Czech. J. Phys.B 12 (1962), 538.

  3. [3]

    Drahokoupil J., Fingerland A.: Conference on X-Ray Wavelength Problems. Stockholm 1959.

  4. [4]

    Bubáková R., Drahokoupil J., Fingerland A.: Czech. J. Phys.B 10 (1960), 255.

  5. [5]

    Bubáková R., Drahokoupil J., Fingerland A.: Czech. J. Phys.B 11 (1961), 205.

  6. [6]

    Fingerland A.: Czech. J. Phys.B 12 (1962), 264.

  7. [7]

    Compton A. H., Allisson S. K.: X-Rays in Theory and Experiment, D. van Nostrand, New York 1949, 724.

  8. [8]

    Fingerland A.: Czech. J. Phys.B 10 (1960), 233.

  9. [9]

    Hirsch P. B., Ramachandran G. N.: Acta Cryst.3 (1950), 508.

  10. [10]

    Hönl H.: Zeitschr. f. Phys.1 (1933), 84; Ann. Physik18 (1933), 625.

  11. [11]

    James R. W.: The Optical Principles of the Diffraction of X-Rays, Bell, London 1948.

  12. [12]

    Guinier A.: X-Ray Crystallographic Technology, Hilger and Watts, London 1952.

  13. [13]

    Zachariasen W. H.: Theory of X-Ray Diffraction in Crystals, Wiley, New York 1946.

  14. [14]

    Hill R. W., Parkinson D. H.: Phil. Mag.43 (1952), 338.

  15. [15]

    Hájek F., Šída R.: Report Inst. Tech. Phys. 453 (in Czech).

  16. [16]

    Bubáková R.: Czech. J. Phys.B 12 (1962), 695.

  17. [17]

    Šolc I.: Čs. čas. fys.8 (1958), 739.

  18. [18]

    Hrubý A.: Čs. čas. fys.A 10 (1960), 225.

  19. [19]

    Bubáková R.: Conference on Monocrystals, Turnov 1961.

  20. [20]

    Renninger M.: Acta Cryst.8 (1955), 597.

Download references

Author information

Additional information

The authors thank R. Šida and F. Hájek for designing and making the automatic equipment for measuring the curves and V. Smutná and A. Irra for carefully performing the auxiliary work.

Rights and permissions

Reprints and Permissions

About this article

Cite this article

Bubáková, R., Drahokoupil, J. & Fingerland, A. The single crystal diffraction patterns of silicon. Czech J Phys 12, 764–775 (1962). https://doi.org/10.1007/BF01691773

Download citation

Keywords

  • Spectroscopy
  • Silicon
  • Diffraction Pattern
  • Dynamical Theory
  • Single Crystal Diffraction