Ein Schattenschlierenverfahren mit Minimumstrahlkennzeichnung für hohe Me\genauigkeit
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Zusammenfassung
Die Minimumstrahlkennzeichnung wird auf das Wienersche Schattenschlierenverfahren angewandt. Für quantitative Untersuchungen mit diesem abgewandelten Schlierenverfahren dienen als Objekte ein Biprisma und eine geschichtete Zuckerlösung. Im Anschlu\ an die Ergebnisse dieser Untersuchungen wird die Me\genauigkeit des abgewandelten Wienerschen Verfahrens mit der beim Schlierenverfahren vonPhilpot-Svensson und beim ursprünglichen Wienerschen Verfahren erreichbaren Me\genauigkeit verglichen.
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