Springer Nature is making SARS-CoV-2 and COVID-19 research free. View research | View latest news | Sign up for updates

Röntgenographische Unterscheidung von Silizium-und Aluminium-Punktlagen durch Verfeinerung des atomaren Streuvermögens

  • 17 Accesses

Zusammenfassung

Die Verfeinerung des atomaren Streuvermögens mittels des Verfahrens der kleinsten Quadrate wird auf die Untersuchung von Si-Al-Verteilungen angewandt. Der geringe Unterschied in den f-Kurven beider Atomarten gestattete im untersuchten Falle einer geordneten Si-Al-Verteilung brauchbare Aussagen.

Summary

A procedure for determining Si-Al distributions by means of least-squares refinement of X-ray diffraction intensities is proposed. It is based on the small differences between the atomic scattering factor curves of both atoms, using the technique of refining f-curves. The scattering factor of an equipoint with a mixed population of Si and Al is represented by

$$f = m \cdot f_{Si} + (1 - m) \cdot f_{Al} ,$$

the parameter m being refined by a least-squares program.

So far, one example of an ordered Si-Al distribution has been studied with encouraging results. Further work is in progress.

This is a preview of subscription content, log in to check access.

Literatur

  1. (1)

    Smith, J. V., undS. Bailey, Acta Cryst.16 (1963), 801.

  2. (2)

    Fischer, K., ACA Annual Meeting, Cambridge/Mass., 1963, Abstracts, S. 41.

  3. (3)

    Fischer, K., Vortrag auf der 50-Jahr-Feier der Laueschen Entdeckung, München 1962. (In Vorbereitung für Z. Krist.).

  4. (4)

    Silverman, J., undS. Simonsen, Acta Cryst.13 (1960), 50.

  5. (5)

    Fischer, K., In Vorbereitung für Acta Cryst.

  6. (6)

    Burnham, C. W., Privatmitteilung, Juli 1964.

  7. (7)

    Fischer, K., American Mineralogist48 (1963), 664.

  8. (8)

    Fischer, K., Fortschr. Min.41 (1963), 154.

Download references

Author information

Additional information

Herrn Professor Dr.F. Machatschki zum 70. Geburtstag gewidmet.

Mit 1 Textabbildung

Rights and permissions

Reprints and Permissions

About this article

Cite this article

Fischer, K. Röntgenographische Unterscheidung von Silizium-und Aluminium-Punktlagen durch Verfeinerung des atomaren Streuvermögens. Tschermaks min u petr Mitt 10, 203–208 (1965). https://doi.org/10.1007/BF01128628

Download citation