Advertisement

Springer Nature is making Coronavirus research free. View research | View latest news | Sign up for updates

Effect of backing metals in the X-ray fluorescence spectral analysis of metal films and its application

Absorption edge effect

  • 26 Accesses

  • 11 Citations

Summary

The enhancement effect of the backing metal on the x-ray intensity of an element in a film has been studied. This effect is dependent on the wave length of the x-ray absorption edge of the element in the film. In the case of nickel film, the infinite thickness at which this effect is lost is about 20μ, and the infinite thickness is independent on the kind of backing metals. It has also been recognized that this enhancement effect is convenient for increasing the x-ray intensity of small amounts of an element. The application of this effect has been demonstrated for the determination of small amounts of nickel and cobalt, which were concentrated in an organic precipitate.

Zusammenfassung

Die verstärkende Wirkung des Grundmetalls auf die Röntgenstrahlenintensität eines Elementes in einem Überzugsfilm wurde untersucht. Diese Wirkung ist abhängig von der Wellenlänge der Röntgenabsorptions-kante des Elementes im Überzug. Im Falle eines Nickelüberzugs beträgt die Dicke, bei der diese Wirkung aufhört, etwa 20μ. Diese Dicke ist unabhängig von der Art des Grundmetalls. Die Erscheinung kann zur Erhöhung der Röntgenfluorescenzintensität kleiner Mengen eines Elementes benutzt werden. Als Anwendungsbeispiel wird die Bestimmung kleiner Mengen Nickel und Kobalt beschrieben, die in einem organischen Niederschlag konzentriert wurden.

This is a preview of subscription content, log in to check access.

References

  1. 1

    Hirokawa, K.: Sci. Rep. RITU A-14, 112 (1962).

  2. 2

    Hirokawa, K., andH. Gotô: Bull. chem. Soc. Japan35, 961 (1962).

  3. 3

    Hirokawa, K., T. Shimanuki andH. Gotô: Z. analyt. Chem.190, 309 (1962).

Download references

Author information

Rights and permissions

Reprints and Permissions

About this article

Cite this article

Hirokawa, K., Suzuki, M. & Gotô, H. Effect of backing metals in the X-ray fluorescence spectral analysis of metal films and its application. Z. Anal. Chem. 199, 89–94 (1964). https://doi.org/10.1007/BF00566606

Download citation

Keywords

  • Nickel
  • Cobalt
  • Wave Length
  • Absorption Edge
  • Metal Film