Fresenius' Zeitschrift für analytische Chemie

January 1983, Volume 314, Issue 3, pp 242–243 | Cite as

Vergleichende SNMS-, SIMS-, XPS- und AES-Analysen von Metallegierungen und nichtelementaren Halbleitern

• Authors
• Authors and affiliations

• K.-H. Müller
• H. Oechsner
• T. Halden

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Comparative SNMS-, SIMS-, XPS- and AES-analysis of alloys and non-elemental semiconductors

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Literatur

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Copyright information

© Springer-Verlag 1983

Authors and Affiliations

• K.-H. Müller
  • 1
• H. Oechsner
  • 1
• T. Halden
  • 1

1. 1.Physikalisches Institut der TU ClausthalClausthal-ZellerfeldBundesrepublik Deutschland