Rasterkraftmikroskopie

Zusammenfassung

1986 wurde das Rasterkraftmikroskop (engl. atomic force microscope, AFM), ein einfaches, aber revolutionäres Gerät zur Abbildung von Oberflächen, vorgestellt. Revolutionär, weil es möglich wurde, einzelne Objekte mit einer Auflösung bis hin zu wenigen Ångström abzubilden, die Objekte mit der gleichen Präzision zu manipulieren und gleichzeitig deren physikalische, chemische und biologische Eigenschaften zu quantifizieren. Das Rasterkraftmikroskop gehört zur Familie der Rastersondenmikroskope (scanning probe microscopes, SPM), welche Oberflächen mit spitzen Sonden abtasten. Dabei ist jedes Mitglied der Familie auf bestimmte Wechselwirkungen der Sonde mit dem Objekt spezialisiert. Dazu zählen optische Signale beim Rasternahfeldmikroskop (scanning near-field microscope, SNOM), Tunnel-Ströme beim Rastertunnelmikroskop (scanning tunneling microscope, STM), Ionenströme (scanning ion conductance microscope, SICM) oder magnetische Wechselwirkungen beim Magnetkraftmikroskop (magnetic force microscope, MFM). Mittlerweile sind über vierzig verschiedene Messanwendungen für die Rastersondenmikroskopie anorganischer und organischer Proben entwickelt worden.