Zusammenfassung
1. Es wird eine Methode beschrieben, die durch Biegung eines geeignet geschliffenen Kristallsgenaue, selektive Fokussierung der Röntgenstrahlen ermöglicht. 2. Der Einfluß verschiedener physikalischer Faktoren auf die Schärfe der Spektrallinien wird diskutiert. 3. Der Einfluß der verschiedenen möglichen Abweichungen von der genauen Herstellung auf die fokalen Eigenschaften der Anordnung wird untersucht. 4. Die Eigenschaften eines auf der Methode beruhenden Spektrometers werden auseinandergesetzt, und ein gebautes Vakuum-spektrometer wird beschrieben. 5. Es wird über einige erreichte Resultate berichtet.
Article PDF
Author information
Authors and Affiliations
Additional information
Es sei mir gestattet, meinem hochverehrten Lehrer, Herrn Professor Dr. Manne Siegbahn, für seine hilfreiche Förderung dieser Arbeit meinen herzlichsten Dank zu sagen.
Rights and permissions
About this article
Cite this article
Johansson, T. Über ein neuartiges, genau fokussierendes Röntgenspektrometer. Z. Physik 82, 507–528 (1933). https://doi.org/10.1007/BF01342254
Received:
Issue Date:
DOI: https://doi.org/10.1007/BF01342254