Analyse
Les auteurs présentent une méthode originate de determination des éléments du schéma équivalent petit signal des transistors à effet de champ. Cette méthode permet de déterminer tous les élémentsextrinsèques etintrinsèques des paramètres petit signal, dans une bande de fréquences basses. Cette méthode estrapide etprécise; le schéma équivalent déduit par cette méthode permet d’obtenir un bon accord sur les paramètres de répartition du composant au moins jusqu’à 26,5 GHz.
Abstract
A new method to determine the small signal equivalent circuit of FET’s is proposed. This method consists in a direct determination of both the extrinsic and intrinsic small signal parameters in a low frequency band. This method is fast, accurate and the determined equivalent circuit fits very well the S-parameters at least up to 26.5 GHz.
References
Minasian (R. A.). Simplified GaAs mesfet model to 10 GHz.Elec. Letters (1977),13, no 8, pp. 549–541.
Diamant (F.), Laviron (M.). Measurement of the extrinsic series elements of a microwave Mesfet under zero current condition.Proc. of 12th EuMc (1982), pp. 451–456.
Lee (K. W.), Lee (K.), Shur (M. S.), Vu (T. T.), Roberts (P. C. T.), Helix (M. J.). Source, drain and gate series resistances and electron saturation velocity in ion implanted GaAsFet’s.Trans. Elec. Devices (1985),ED 32, no 5, pp. 987- 992.
Cappy (A.). Propriétés physiques et performances potentielles des composants submicroniques à effet de champ: structure conventionnelle et à gaz d’électron bidimensionnel.Thèse de Doctorat, Lille (1986).
Hower (P. L.), Bechtel (N. G.). Current saturation and small signal characteristics of GaAs field effects transistors.IEEE Trans. Elec. Devices (1973),20, no 3, pp. 213–220.
Fukui (H.). Determination of the basic device parameters of a GaAsMNesfet.Bell. Syst. Tech. J. (1979),58, no 3, pp. 771–795.
Yang (L.), Long (S. I.). New method to measure the source and drain resistance of the GaAsMesfet.IEEE Elec. Dev. Letters (1986),7, no 2, pp. 75–77.
Granlund (J.). Resistance associated withFet gate metallization.IEEE Elec. Dev. Letters (1980),1, no 8, pp. 151- 153.
Author information
Authors and Affiliations
Rights and permissions
About this article
Cite this article
Dambrine, G., Cappy, A. Détermination rapide et précise du schéma équivalent “petit signal” des transistors à effet de champ. Ann. Télécommun. 43, 274–281 (1988). https://doi.org/10.1007/BF02995088
Received:
Accepted:
Published:
Issue Date:
DOI: https://doi.org/10.1007/BF02995088
Mots clés
- Transistor effet champ
- Schéma équivalent
- Régime signal faible
- Transistor hyperfréquence
- Capacité parasite